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Tauchsport Wöchentliche Anmeldung über das Anmeldesystem Hochschulsport . Voranmeldung per E-Mail an den Obmann unbedingt erforderlich, am besten einen Tag im Voraus!! Training Treffen um 19:30 Uhr am
r Tencor Alphastep (Profilometer) Gerätebezeichnung Kurzform Zweck Gebäudenr. Verantwortlich Tel,Email Mechanisches Profilometer Tencor Alphastep Profilometer Oberflächenrauhigkeit, Schichtdicke, Sputtertiefe
Röntgendiffraktometer Siemens D5000 (XRD) Gerätebezeichnung Kurzform Zweck Gebäudenr. Verantwortlich Tel,Email Röntgendiffraktometer Siemens D5000 XRD Phasenidentifikation, Dünnschichtanalyse 0500 Dr. Wolfgang
ungsemissionsspektrometer (GDOES) Gerätebezeichnung Kurzform Zweck Gebäudenr. Verantwortlich Tel,Email Glimmentladungsemissions-spektrometer GD-OES Materialanalysen (qualitativ und quantitativ); Tiefenprofil
Plasma-Emissionsspektrometer (ICP-OES) Gerätebezeichnung Kurzform Zweck Gebäudenr. Verantwortlich Tel,Email Induktiv-gekoppletes Plasma-Emissionsspektrometer ICP-OES Multielementanalytik in Lösungen 0510 G
Flammen-Atomabsorptionsspektrometer (F-AAS) Gerätebezeichnung Kurzform Zweck Gebäudenr. Verantwortlich Tel,Email Flammen-Atomabsorptionsspektrometer F-AAS chemische Analyse von Metallen in Lösungen 0510 G. Zander
"Leybold-Heraeus IS8/III" (VIO groß) Gerätebezeichnung Kurzform Zweck Gebäudenr. Verantwortlich Tel,Email Vakuuminduktionsofen "Leybold-Heraeus IS8/III" VIO groß Erschmelzen und Vergießen von Metallen, Messung
"Leybold-Heraeus IS1,5/II" (VIO-klein) Gerätebezeichnung Kurzform Zweck Gebäudenr. Verantwortlich Tel,Email Vakuuminduktionsofen "Leybold-Heraeus IS1,5/II" VIO klein Erschmelzen und Vergießen von Metallen,
"Linn HT 1800 M" (Schutzgas-Muffel) Gerätebezeichnung Kurzform Zweck Gebäudenr. Verantwortlich Tel,Email Schutzgas-Kammerofen "Linn HT 1800 M" Schutzgas-Muffel Erschmelzen von Metallen und Oxiden, Messung
rometer Cameca IMS 3f & 5f (SIMS) Gerätebezeichnung Kurzform Zweck Gebäudenr. Verantwortlich Tel,Email Sekundärionen-Massenspektrometer Cameca IMS 5f Baujahr: 1993 SIMS 5f isotopenselektive Tiefenprofilanalyse
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