etektor (Sekundärelektronen; Materialkontrast; Arbeitsabstand 10mm, Vergrößerung 500-1.000.000 x, Auflösung max. 1nm) BSE-Outlens-Detektor (Rückstreuelektronen; Materialkontrast; Arbeitsabstand 8 mm; plane […] können. Des Weiteren kann mit Hilfe Scherrer Gleichung die mittlere Kristallitgröße von Kristalliten ≤ 0,1 μm bestimmt werden. Für XRD steht ein Diffraktometer der Firma PANalytical Empyrean zur Verfügung, das
Unsere Schwerpunkte Das am 1. Oktober 2012 an der TU Clausthal neu gegründete Institut für Elektrochemie mit dem Gründungsdirektor Professor Frank Endres hat sich die Aufgabe gestellt, die elementaren
Unsere Webseite verwendet Cookies. Diese haben zwei Funktionen: Zum einen sind sie erforderlich für die grundlegende Funktionalität unserer Website. Zum anderen können wir mit Hilfe der Cookies unsere Inhalte für Sie immer weiter verbessern. Hierzu werden u. a. pseudonymisierte Daten von Website-Besuchern gesammelt und ausgewertet. Mit dem Klick auf Einstellungen können Sie zudem die einzelnen Cookies auswählen, welche Sie akzeptieren wollen. Das Einverständnis in die Verwendung der Cookies können Sie jederzeit, auch teilweise, widerrufen. Weitere Informationen zu Cookies auf dieser Website finden Sie in unserer Datenschutzerklärung und zu uns im Impressum.
