8K0.1M (Kern) Messbereich: 0 g – 8000 g Messgenauigkeit: 0,1 g RTM – Werkzeug mit einseitig transparenter Wandung (Eigenentwicklung) Maximale Probengröße: 400 mm x 120 mm x 15 mm Druckbereich: -1 bar – […] Regelgenauigkeit: ±1°C Prozesstemperaturen: bis 180°C Ausgaben im csv- oder PDF-Format Digitale Vakuummessgeräte (GHM Greisinger) Feinmanometer GMH3181-07H: Messbereich: 0 mbar – 1300 mbar abs. bei 1 mbar Auflösung
zusammengefasst: In der vorliegenden Konfiguration (Write Mode II) beträgt die minimale Strukturgröße 1 µm. Als Substrat können unterschiedlichen Materialien (Glas, Silizium, Diamant ...) verwendet werden
von Prozesszeiten und die Verbesserung der mechanischen Eigenschaften der Endprodukte. Prozessablauf 1. Zuschnitt und Trockung 2. Positionierung 3. Imprägnierung 4. Kompaktierung Innovativer Faserverbundprozess
er Aufbautisch schnellwechsel- und temperierbare Aufbauplatten 1 oder mehr Metall-Schutzgas-Schweißsysteme (MSG) für das WAAM-Verfahren 1 oder mehr Bohr-/Fräsköpfe Show larger version Hochdruckbehälter […] Achsen: 6 Positionswiederholgenauigkeit: +/- 0,06 mm Show larger version KUKA KR30 HA (High Accuracy) 1 Robotersystem für hochpräzise Anforderungen mit Dreh-Schwenk-Kipptisch für die additve Fertigung und […] Reichweite: 2041 mm Positionswiederholgenauigkeit (ISO 9283): <±0,05 mm Anzahl Achsen: 6 Steuerung KRC1 Show larger version 3D-Drucksystem GULLIVER Vorrichtung zur additven Fertigung großvolumiger Körper
TiCN durch Einleitung reaktiver Prozessgase Technische Daten: Beschichtungskammer: 800 mm x 800 mm x 1.000 mm (Länge x Breite x Höhe) Kathodenanzahl: 6 Kathodengröße (Target): 500 mm x 88 mm Kathodenleistung: […] Ø 400 mm mit sechs Planetenantrieben Ø 130 mm Bias Substrattisch bis 1200V Pumpen: 2 Turbopumpen; 1 Drehschieberpumpe Gase: Argon, Stickstoff, Acetylen, Krypton, Sauerstoff Show larger version PPA-Be
Nanolab 600 Show larger version AFM-Aufnahme einer mit Polycarbonat (PC) bedeckten Stahloberfläche (1.2379). Die mittels AFM gemessene Schichtdicke des PC beträgt rund 10 nm. Rasterkraftmikroskopie - AFM
werden. Die laterale Auflösung liegt hierbei typischerweise zwischen 1 um und mehreren hundert nm. Die Informationstiefe beträgt üblich 1-3 um. Sowohl die laterale Auflösung als auch die erreichbare Info […] Nanolab 600 Show larger version XPS-Spektrum von Polycarbonat auf Stahl. Zu sehen ist das ausgewertete C1s-Spektrum mit der Zuordnung der verschiedenen Peaks zu den charakteristischen chemischen Bindungen im […] ng besetzt ein Elektron eines gefüllten elektronischen Bandes der Probenoberfläche den unbesetzten 1s-Zustand des Heliumatoms. Das He2s-Elektron wird in Folge emittiert Elektronenspektroskopie mit metastabilen
transienter Vorgänge Technische Daten 48 individuell einstellbare Messköpfe Max. Geschwindigkeit : ± 1,75 m/s Bandbreite: bis 50 kHz Auflösung bis zu 0,03 (μm/s) / √Hz Bei Bedarf existiert ein integrierter
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