der Wahl (NanoSAM). Solche Geräte erreichen Spezifikationen, die im Sekundärelektronenmikroskopie(SEM)-Modus kaum von denen hochauflösender Rasterelektronenmikroskope mit Feldemittern abweichen, liefern
3 (100)-Oberflächen unter reduzierenden Bedingungen: Untersuchungen mit STS/STM, MIES, AES/SAM und SEM, Frühjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft in Regensburg (2002) 2001 2001 A. Gunhold
DOI: 10.1016/j.cartre.2025.100529 Non-thermal plasma treatment to optimize surface preparation for SEM-EBSD investigations of graphite in ductile cast iron Felix Mori, Viktor Udachin, Hanka Becker, Lienhard
