Geräte Show larger version Helios Nanolab 600 Hersteller FEI Deutschland Analytik SEM , STEM , EBSD , EDX Präparation FIB , Cryo Standort INW Betreuer Dr. René Gustus Show larger version ESCA Lab MK II
toffzelle aufgenommen im Materialkontrastmodus. Rasterelektronenmikroskopie - SEM Bei der Rasterelektronenmikroskopie (SEM) wird ein fein-fokussierter Elektronenstrahl (wenige nm) rasterförmig über die
sie die Mitgliederversammlung, unter der Leitung des Vorstandsvorsitzenden, welche mind. einmal im Semester zur Beratung zusammenkommt. Prof. Dr. A. Adam Prof. Dr.-Ing. C. Argirusis Prof. Dr. S. Beuermann
