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Edelgaspyknometer / Heliumpyknometer Dichtebestimmung, Keimdichte Firma: POROTEC Modell: Pycnomatic-ATC Verantwortlich: Christian Rust

Rasterelektronenmikroskop (REM (SEM)) Elektronenmikroskopie mit EDX Firma: Zeiss Modell: EVO 50 Verantwortlich: Thomas Peter

Liebe Studierende, das angesprochene Stipendium wird aufgrund von Exzellenz-Kriterien vergeben. Das Stipendium "France Excellence Europa" ermöglicht (für eine Dauer von 12 bis 24 Monaten) den Bezug fo

Sekundärneutralteilchen Massenspektrometer (SNMS) Analyse dünner Schichten, Bestimmung chemischer Elemente in einem Tiefenprofiel (Konzentrationsprofil), Tiefenauflösung im nm-Bereich Firma: SPECS Mod

Balkenbiegeviskosimeter Viskosität, Balkenbiegegeometrie Ungefähre Probenabmessung: 3x5x45 mm (HxBxL) Firma: Bähr Thermoanalyse Modell: VIS 401 Verantwortlich: Benedict Hagel

Kontaktwinkelmessgerät Kontaktwinkelbestimmung auf Oberflächen, Oberflächenspannung Firma: dataphysics Modell: OCA 15plus Verantwortlich: Thomas Peter

Optisches Dilatometer Thermischer Ausdehnungskoeffizient, Glastransformationstemperatur Firma: TA Instruments Modell: DIL 806 Verantwortlich: Benedict Hagel

Rheometer Bestimmung der Viskosität von Medien in einem temperierbaren Becher (bis ca. 200 °C) Firma: Thermo Scientific Modell: HAAKE MARS III Verantwortlich: Annika Blum

Fokussierter Ionenstrahl - Feldelektronenmikroskop (FIB-FESEM) Fokussierter Ionenstrahl - Feldelektronenmikroskop Messmethoden: SEM, STEM, EBSD, EDX Firma: FEI Modell: Nanolab 600 Verantwortlich: Rene

Laser Flash Apparatur (LFA) Bestimmung der Wärme- und Temperaturleitfähigkeit, inerte Atmosphäre, bis 1500 °C Firma: Netzsch Modell: LFA 427 Verantwortlich: Annika Blum